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Capitoli di libri
  1. P. Olivo e M. Dalpasso,
    A BIST Scheme for Non-Volatile Memories,
    pagg. 139-144, in ON-LINE TESTING FOR VLSI,
    a cura di M. Nicolaidis, Y. Zorian e D. K. Pradan,
    pubblicato da Kluwer Academic Publishers, 1998
Riviste
  1. M. Favalli e M. Dalpasso,
    Simulazione di guasti in circuiti integrati digitali ,
    Alta Frequenza,
    Vol. 4, N. 1, pagg. 13-22, Gen.-Feb. 1992
  2. M. Dalpasso, M. Favalli, P. Olivo e B. Riccò,
    Fault Simulation of Parametric Bridging Faults in CMOS ICs ,
    IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems,
    Vol. CAD-12, pagg. 1403-1410, Settembre 1993
  3. M. Favalli, M. Dalpasso, P. Olivo e B. Riccò,
    Analysis of Resistive Bridging Fault Detection in BiCMOS Digital ICs,
    IEEE Transactions on VLSI Systems,
    Vol. 1, pagg. 342-355, Settembre 1993
  4. M. Dalpasso, M. Favalli, P. Olivo e J. P. Teixeira,
    Realistic testability estimates for CMOS ICs,
    IEE Electronics Letters,
    Vol. 30, N. 19, pagg. 1593-1595, 15 Settembre 1994
  5. M. Dalpasso,
    Advanced Test Pattern Generation for CMOS IDDQ Testing,
    Alta Frequenza,
    Vol. 8, N. 2, pagg. 57-59, Mar.-Apr. 1996
  6. M. Dalpasso, M. Favalli e P. Olivo,
    IDDQ Test Invalidation by Break Faults ,
    IEE Electronics Letters,
    Vol. 32, N. 11, pagg. 994-995, 23 Maggio 1996
  7. M. Favalli, M. Dalpasso e P. Olivo,
    Modeling and Simulation of Broken Connections in CMOS ICs ,
    IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems,
    Vol. 15, N. 7, pagg. 808-914, Luglio 1996
  8. M. Favalli e M. Dalpasso,
    Symbolic Handling of Bridging Fault Effects,
    Journal of Electronic Testing, Theory and Applications,
    Kluwer Academic Publishers,
    Vol. 10, N. 3, pagg. 271-276, Giugno 1997
  9. M. Dalpasso e M. Favalli,
    A Method for Increasing the IDDQ Testability ,
    IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems,
    Vol. 16, N. 10, pagg. 1186-1188, Ottobre 1997
  10. P. Olivo e M. Dalpasso,
    A BIST Scheme for Non-Volatile Memories,
    Journal of Electronic Testing, Theory and Applications,
    Kluwer Academic Publishers,
    Vol. 12, N. 1/2, pagg. 139-144, Febbraio/Aprile 1998
  11. M. Dalpasso, A. Bogliolo e L. Benini,
    Virtual Simulation of Distributed IP-based Designs,
    IEEE Design & Test of Computers,
    Vol. 19, N. 5, pagg. 92-104, Settembre/Ottobre 2002
  12. M. Favalli e M. Dalpasso,
    Bridging Fault Modeling and Simulation for Deep Submicron CMOS ICs,
    IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems,
    Vol. 21, N. 8, pagg. 941-953, Agosto 2002
  13. M. Dalpasso, G. Lancia e R. Rizzi,
    The String Barcoding Problem is NP-Hard,
    Lecture Notes in Computer Science,
    Vol. 3678 / 2005, pagg. 88-96
  14. M. Favalli e M. Dalpasso,
    How many Test Vectors We Need to Detect a Bridging Fault?,
    Journal of Electronic Testing, Theory and Applications,
    Kluwer Academic Publishers,
    Vol. 25, N. 1, pagg. 79-95, Febbraio 2009
Conferenze con pubblicazione di Atti
  1. M. Dalpasso, M. Favalli, P. Olivo e B. Riccò,
    Switch-Level Fault Simulation by Critical-Path Tracing ,
    IEEE European Test Conference,
    pagg. 181-190, Aprile 1991
  2. M. Ambanelli, M. Favalli, M. Dalpasso, P. Olivo e B. Riccò,
    Fault Simulation of Multiple Faults in PLAs,
    IEEE Annual European Computer Conference (CompEuro),
    pagg. 229-232, Maggio 1991
  3. M. Favalli, S. Ercolani, M. Dalpasso, P. Olivo e B. Riccò,
    Weighted Pseudorandom Generation for Built-In Self-Test ,
    IEEE Annual European Computer Conference (CompEuro),
    pagg. 572-574, Maggio 1991
  4. M. Favalli, M. Dalpasso, P. Olivo e B. Riccò,
    Analysis of Steady State Detection of Resistive Bridging Faults in BiCMOS Digital ICs,
    IEEE International Test Conference,
    pagg. 466-475, Settembre 1992
  5. M. Dalpasso, M. Favalli, P. Olivo e B. Riccò,
    Parametric Bridging Fault Characterization for the Fault Simulation of Library-Based ICs,
    IEEE International Test Conference,
    pagg. 486-495, Settembre 1992
  6. M. Dalpasso, M. Favalli, P. Olivo e B. Riccò,
    Influence of IC synthesis on the Random Pattern Testability of Parametric Bridging Faults,
    IEEE European Test Conference,
    pagg. 398-407, Aprile 1993
  7. M. Favalli, M. Dalpasso, P. Olivo e B. Riccò,
    Analysis of Dynamic Effects of Resistive Bridging Faults in CMOS and BiCMOS Digital ICs,
    IEEE International Test Conference,
    pagg. 865-874, Ottobre 1993
  8. M. Favalli, M. Dalpasso, P. Olivo e B. Riccò,
    Modeling of Broken Connections Faults in CMOS ICs ,
    IEEE European Design and Test Conference,
    pagg. 159-164, Febbraio-Marzo 1994
  9. M. Dalpasso, M. Favalli e P. Olivo,
    Correlation between IDDQ Testing Quality and Sensor Accuracy,
    IEEE European Design and Test Conference,
    pagg. 568-572, Marzo 1995
  10. M. Dalpasso, M. Favalli e P. Olivo,
    Test Pattern Generation for IDDQ: Increasing Test Quality ,
    IEEE VLSI Test Symposium,
    pagg. 304-309, Aprile-Maggio 1995
  11. M. Dalpasso e M. Favalli,
    Binary Decision Diagrams (BDDs) for the Test Pattern Generation,
    IEE International Conference on Software for Electrical Engineering Analysis and Design,
    pagg.95-104, Maggio 1996
  12. P. Olivo e M. Dalpasso,
    Self-Learning Signature Analysis for Non-Volatile Memory Testing,
    IEEE International Test Conference,
    pagg. 303-308, Ottobre 1996
  13. M. Dalpasso, A. Bogliolo e L. Benini,
    Specification and validation of distributed IP-based designs with JavaCAD,
    IEEE/ACM Design Automation and Test in Europe Conference,
    pagg. 684-688, Marzo 1999
  14. M. Dalpasso, A. Bogliolo e L. Benini,
    Virtual Simulation of distributed IP-based designs ,
    IEEE/ACM Design Automation Conference,
    pagg. 50-55, Giugno 1999
  15. M. Dalpasso, A. Bogliolo L. Benini e M. Favalli,
    Virtual Fault Simulation of distributed IP-based designs ,
    IEEE/ACM Design Automation and Test in Europe Conference 2000,
    pagg. 99-103, Marzo 2000
  16. M. Dalpasso, A. Bogliolo e L. Benini,
    Hardware/Software IP protection,
    IEEE/ACM Design Automation Conference 2000,
    pagg. 593-596, Giugno 2000
  17. M. Favalli e M. Dalpasso,
    An evolutionary approach to the design of on-chip pseudorandom test pattern generators,
    IEEE/ACM Design Automation and Test in Europe Conference 2002,
    Marzo 2002
  18. F. Bombi, G. Clemente, S. Congiu, M. Dalpasso, F. Filira, M. Furin, M. Moro, M. Sgargetta e R. Verago,
    A new multimedia distributed system for on-line advanced teleteaching,
    International Conference ICL (Interactive Computer Aided Learning),
    Settembre 2005
  19. F. Bombi, G. Clemente, S. Congiu, M. Dalpasso, F. Filira, M. Furin, M. Moro, M. Sgargetta e R. Verago,
    A new multimedia distributed system for live teaching,
    Iadat-e2006 - 3rd International Conference on Education,
    Luglio 2006
  20. F. Bombi, G. Clemente, S. Congiu, M. Dalpasso, F. Filira, M. Furin, M. Moro, M. Sgargetta e R. Verago,
    Live teaching with an advanced multimedia distributed system,
    IODL2006 - 2nd International Open & Distance Learning Symposium,
    Settembre 2006
  21. M. Favalli e M. Dalpasso,
    High Quality Test Vectors for Bridging Faults in the Presence of IC's Parameters Variations    ,
    22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT '07),
    pagg. 448-456, Settembre 2007
  22. F. Filira, N Anghelidis e M. Dalpasso,
    Tele-Assessment of the Tele-Taught University Degree in Computer Science Engineering,
    iLearning Forum 2008,
    2008
  23. F. Filira, G. Boccuzzo, M. Dalpasso e N. Anghelidis,
    Effectiveness assessment of tele-taught vs. traditional courses of a 3-year university degree in compuoter science engineering    ,
    INTED2008 International Conference,
    Marzo 2008
Conferenze senza pubblicazione di Atti
  1. M. Dalpasso,
    Approaching the Synthesis for Testable Circuits Beyond the Stuck-At Fault Model,
    ARCHIMEDES Open Workshop on Synthesis of Testable Circuits ,
    Bologna, Italia, Febbraio 1994
  2. M. Dalpasso,
    IDDQ Testing di circuiti integrati CMOS,
    ELETTRONICA 95 -- Riunione Annuale del Gruppo di Elettronica del CNR,
    Riva del Garda, Trento, Italia, Giugno 1995
  3. P. Olivo e M. Dalpasso,
    Self-Learning Signature Analysis for Non-Volatile Memory Testing,
    IEEE European Test Workshop,
    Montpellier, Francia, Giugno 1996
  4. P. Olivo e M. Dalpasso,
    A BIST Scheme for Non-Volatile Memories,
    IEEE International On-Line Testing Workshop,
    Biarritz, Francia, Luglio 1996
  5. P. Olivo e M. Dalpasso,
    A BIST Scheme for Non-Volatile Memories,
    IEEE Non-Volatile Semiconductor Memory Workshop,
    Monterey, California, USA, Febbraio 1997
  6. G. Lancia, M. Dalpasso e R. Rizzi,
    The String Barcoding Problem is NP-Hard,
    RECOMB 2005 Satellite Workshop on Comparative Genomics,
    Settembre 2005
Tesi di Laurea in Ingegneria Elettronica
Simulazione a livello switch di circuiti integrati CMOS,
21 Febbraio 1990, Bologna, Italia.
Tesi di Dottorato in Ingegneria Elettronica e Informatica
Analisi, Modellistica e Simulazione di Guasto in Circuiti Integrati CMOS,
25 Luglio 1994, Roma, Italia.