21/11/2018 Eleonora Canato, ha ricevuto il Best Paper Award alla conferenza 29th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
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Eleonora Canato, ha ricevuto il Best Paper Award alla conferenza 29th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis in Aalborg tenutasi in Danimarca dal 1 al 5 Ottobre 2018, con il lavoro intitolato "Impact of sidewall etching on the dynamic performance of GaN-on-Si E-mode transistors". Altri autori del DEI: Alaleh Tajalli, Eleonora Canato, Arianna Nardo, Matteo Meneghini, Enrico Zanoni, Gaudenzio Meneghesso,
